(Pierre Auger Collaboration)
Abreu, P.; Aglietta, M.; Ahn, E. J.; Albuquerque, I. F. M.; Allard, D.; Allekotte, I.; Allen, J.; Allison, P.; Alvarez Castillo, J.; Alvarez-Muniz, J.; Ambrosio, M.; Aminaei, A.; Anchordoqui, L.; Andringa, S.; Anticic, T.; Anzalone, A.; Aramo, C.; Arganda, E.; Arqueros, F.; Asorey, H.; Assis, P.; Aublin, J.; Ave, M.; Avenier, M.; Avila, G.; Baecker, T.; Balzer, M.; Barber, K. B.; Barbosa, A. F.; Bardenet, R.; Barroso, S. L. C.; Baughman, B.; Baeuml, J.; Beatty, J. J.; Becker, B. R.; Becker, K. H.; Belletoile, A.; Bellido, J. A.; BenZvi, S.; Berat, C.; Bertou, X.; Biermann, P. L.; Billoir, P.; Blanco, F.; Blanco, M.; Bleve, C.; Bluemer, H.; Bohacova, M.; Boncioli, D.; Bonifazi, C.; Bonino, R.; Borodai, N.; Brack, J.; Brogueira, P.; Brown, W. C.; Bruijn, R.; Buchholz, P.; Bueno, A.; Burton, R. E.; Caballero-Mora, K. S.; Caramete, L.; Caruso, R.; Castellina, A.; Catalano, O.; Cataldi, G.; Cazon, L.; Cester, R.; Chauvin, J.; Cheng, S. H.; Chiavassa, A.; Chinellato, J. A.; Chou, A.; Chudoba, J.; Clay, R. W.; Coluccia, M. R.; Conceicao, R.; Contreras, F.; Cook, H.; Cooper, M. J.; Coppens, J.; Cordier, A.; Coutu, S.; Covault, C. E.; Creusot, A.; Criss, A.; Cronin, J.; Curutiu, A.; Dagoret-Campagne, S.; Dallier, R.; Dasso, S.; Daumiller, K.; Dawson, B. R.; de Almeida, R. M.; De Domenico, M.; De Donato, C.; de Jong, S. J.; De La Vega, G.; de Mello Junior, W. J. M.; de Mello Neto, J. R. T.; De Mitri, I.; de Souza, V.; de Vries, K. D.; Decerprit, G.; del Peral, L.; del Rio, M.; Deligny, O.; Dembinski, H.; Dhital, N.; Di Giulio, C.; Diaz, J. C.; Diaz Castro, M. L.; Diep, P. N.; Dobrigkeit, C.; Docters, W.; D'Olivo, J. C.; Dong, P. N.; Dorofeev, A.; dos Anjos, J. C.; Dova, M. T.; D'Urso, D.; Dutan, I.; Ebr, J.; Engel, R.; Erdmann, M.; Escobar, C. O.; Espadanal, J.; Etchegoyen, A.; Luis, P. Facal San; Fajardo Tapia, I.; Falcke, H.; Farrar, G.; Fauth, A. C.; Fazzini, N.; Ferguson, A. P.; Ferrero, A.; Fick, B.; Filevich, A.; Filipcic, A.; Fliescher, S.; Fracchiolla, C. E.; Fraenkel, E. D.; Froehlich, U.; Fuchs, B.; Gaior, R.; Gamarra, R. F.; Gambetta, S.; Garcia, B.; Garcia Gamez, D.; Garcia-Pinto, D.; Gascon, A.; Gemmeke, H.; Gesterling, K.; Ghia, P. L.; Giaccari, U.; Giller, M.; Glass, H.; Gold, M. S.; Golup, G.; Gomez Albarracin, F.; Gomez Berisso, M.; Goncalves, P.; Gonzalez, D.; Gonzalez, J. G.; Gookin, B.; Gora, D.; Gorgi, A.; Gouffon, P.; Gozzini, S. R.; Grashorn, E.; Grebe, S.; Griffith, N.; Grigat, M.; Grillo, A. F.; Guardincerri, Y.; Guarino, F.; Guedes, G. P.; Guzman, A.; Hague, J. D.; Hansen, P.; Harari, D.; Harmsma, S.; Harton, J. L.; Haungs, A.; Hebbeker, T.; Heck, D.; Herve, A. E.; Hojvat, C.; Hollon, N.; Holmes, V. C.; Homola, P.; Horandel, J. R.; Horneffer, A.; Hrabovsky, M.; Huege, T.; Insolia, A.; Ionita, F.; Italiano, A.; Jarne, C.; Jiraskova, S.; Josebachuili, M.; Kadija, K.; Kampert, K. H.; Karhan, P.; Kasper, P.; Kegl, B.; Keilhauer, B.; Keivani, A.; Kelley, J. L.; Kemp, E.; Kieckhafer, R. M.; Klages, H. O.; Kleifges, M.; Kleinfeller, J.; Knapp, J.; Koang, D. -H.; Kotera, K.; Krohm, N.; Kroemer, O.; Kruppke-Hansen, D.; Kuehn, F.; Kuempel, D.; Kulbartz, J. K.; Kunka, N.; La Rosa, G.; Lachaud, C.; Lautridou, P.; Leao, M. S. A. B.; Lebrun, D.; Lebrun, P.; Leigui de Oliveira, M. A.; Lemiere, A.; Letessier-Selvon, A.; Lhenry-Yvon, I.; Link, K.; Lopez, R.; Lopez Agueera, A.; Louedec, K.; Lozano Bahilo, J.; Lu, L.; Lucero, A.; Ludwig, M.; Lyberis, H.; Maccarone, M. C.; Macolino, C.; Maldera, S.; Mandat, D.; Mantsch, P.; Mariazzi, A. G.; Marin, J.; Marin, V.; Maris, I. C.; Marquez Falcon, H. R.; Marsella, G.; Martello, D.; Martin, L.; Martinez, H.; Martinez Bravo, O.; Mathes, H. J.; Matthews, J.; Matthews, J. A. J.; Matthiae, G.; Maurizio, D.; Mazur, P. O.; Medina-Tanco, G.; Melissas, M.; Melo, D.; Menichetti, E.; Menshikov, A.; Mertsch, P.; Meurer, C.; Micanovic, S. w; Micheletti, M. I.; Miller, W.; Miramonti, L.; Molina-Bueno, L.; Mollerach, S.; Monasor, M.; Ragaigne, D. Monnier; Montanet, F.; Morales, B.; Morello, C.; Moreno, E.; Moreno, J. C.; Morris, C.; Mostafa, M.; Moura, C. A.; Mueller, S.; Muller, M. A.; Mueller, G.; Muenchmeyer, M.; Mussa, R.; Navarra, G.; Navarro, J. L.; Navas, S.; Necesal, P.; Nellen, L.; Nelles, A.; Neuser, J.; Nhung, P. T.; Niemietz, L.; Nierstenhoefer, N.; Nitz, D.; Nosek, D.; Nozka, L.; Nyklicek, M.; Oehlschlaeger, J.; Olinto, A.; Oliva, P.; Olmos-Gilbaja, V. M.; Ortiz, M.; Pacheco, N.; Selmi-Dei, D. Pakk; Palatka, M.; Pallotta, J.; Palmieri, N.; Parente, G.; Parizot, E.; Parra, A.; Parsons, R. D.; Pastor, S.; Paul, T.; Pech, M.; Pekala, J.; Pelayo, R.; Pepe, I. M.; Perrone, L.; Pesce, R.; Petermann, E.; Petrera, S.; Petrinca, P.; Petrolini, A.; Petrov, Y.; Petrovic, J.; Pfendner, C.; Phan, N.; Piegaia, R.; Pierog, T.; Pieroni, P.; Pimenta, M.; Pirronello, V.; Platino, M.; Ponce, V. H.; Pontz, M.; Privitera, P.; Prouza, M.; Quel, E. J.; Querchfeld, S.; Rautenberg, J.; Ravel, O.; Ravignani, D.; Revenu, B.; Ridky, J.; Riggi, S.; Risse, M.; Ristori, P.; Rivera, H.; Rizi, V.; Roberts, J.; Robledo, C.; Rodrigues de Carvalho, W.; Rodriguez, G.; Rodriguez Martino, J.; Rodriguez Rojo, J.; Rodriguez-Cabo, I.; Rodriguez-Frias, M. D.; Ros, G.; Rosado, J.; Rossler, T.; Roth, M.; Rouille-d'Orfeuil, B.; Roulet, E.; Rovero, A. C.; Ruehle, C.; Salamida, F.; Salazar, H.; Salina, G.; Sanchez, F.; Santo, C. E.; Santos, E.; Santos, E. M.; Sarazin, F.; Sarkar, B.; Sarkar, S.; Sato, R.; Scharf, N.; Scherini, V.; Schieler, H.; Schiffer, P.; Schmidt, A.; Schmidt, F.; Scholten, O.; Schoorlemmer, H.; Schovancova, J.; Schovanek, P.; Schroeder, F.; Schulte, S.; Schuster, D.; Sciutto, S. J.; Scuderi, M.; Segreto, A.; Settimo, M.; Shadkam, A.; Shellard, R. C.; Sidelnik, I.; Sigl, G.; Silva Lopez, H. R.; Smialkowski, A.; Smida, R.; Snow, G. R.; Sommers, P.; Sorokin, J.; Spinka, H.; Squartini, R.; Stanic, S.; Stapleton, J.; Stasielak, J.; Stephan, M.; Strazzeri, E.; Stutz, A.; Suarez, F.; Suomijaervi, T.; Supanitsky, A. D.; Susa, T.; Sutherland, M. S.; Swain, J.; Szadkowski, Z.; Szuba, M.; Tamashiro, A.; Tapia, A.; Tartare, M.; Tascau, O.; Tavera Ruiz, C. G.; Tcaciuc, R.; Tegolo, D.; Thao, N. T.; Thomas, D.; Tiffenberg, J.; Timmermans, C.; Tiwari, D. K.; Tkaczyk, W.; Todero Peixoto, C. J.; Tome, B.; Tonachini, A.; Travnicek, P.; Tridapalli, D. B.; Tristram, G.; Trovato, E.; Tueros, M.; Ulrich, R.; Unger, M.; Urban, M.; Valdes Galicia, J. F.; Valino, I.; Valore, L.; van den Berg, A. M.; Varela, E.; Vargas Cardenas, B.; Vazquez, J. R.; Vazquez, R. A.; Veberic, D.; Verzi, V.; Vicha, J.; Videla, M.; Villasenor, L.; Wahlberg, H.; Wahrlich, P.; Wainberg, O.; Walz, D.; Warner, D.; Watson, A. A.; Weber, M.; Weidenhaupt, K.; Weindl, A.; Westerhoff, S.; Whelan, B. J.; Wieczorek, G.; Wiencke, L.; Wilczynska, B.; Wilczynski, H.; Will, M.; Williams, C.; Winchen, T.; Winnick, M. G.; Wommer, M.; Wundheiler, B.; Yamamoto, T.; Yapici, T.; Younk, P.; Yuan, G.; Yushkov, A.; Zamorano, B.; Zas, E.; Zavrtanik, D.; Zavrtanik, M.; Zaw, I.; Zepeda, A.; Zimbres Silva, M.; Ziolkowski, M.;
(2012)
Search for signatures of magnetically-induced alignment in the arrival directions measured by the Pierre Auger Observatory.
Astroparticle Physics, 35
(6).
pp. 354-361.
ISSN 0927-6505
Abstract
We present the results of an analysis of data recorded at the Pierre Auger Observatory in which we search for groups of directionally-aligned events (or ‘multiplets’) which exhibit a correlation between arrival direction and the inverse of the energy. These signatures are expected from sets of events coming from the same source after having been deflected by intervening coherent magnetic fields. The observation of several events from the same source would open the possibility to accurately reconstruct the position of the source and also measure the integral of the component of the magnetic field orthogonal to the trajectory of the cosmic rays. We describe the largest multiplets found and compute the probability that they appeared by chance from an isotropic distribution. We find no statistically significant evidence for the presence of multiplets arising from magnetic deflections in the present data.
Actions (login required)
 |
View Item |
2619
WOS:000300760800008
Altmetric
Altmetric
